XRD分析是通过测量材料内原子平面对X射线的衍射，来研究和量化材料的结晶性质。它不仅能够确定材料的晶体结构、相组成及微观结构变化，还能够测量晶体含量、晶格平面之间的间距以及晶体的择优生长等信息。XRD分析在材料科学、化学、物理学、地质学、制药业、法医学以及玻璃工业等多个领域得到了广泛应用。
XRD分析-中科检测
XRD分析范围
(1)晶体结构：通过分析衍射图样来确定材料的晶体结构，包括晶格常数、晶胞参数、晶体对称性等信息。
(2)晶体相组成：通过分析衍射图样来确定材料中的晶体相组成，即不同晶体结构的相对含量。
(3)晶体取向：测定晶体在材料中的取向信息，包括晶体的取向度和取向分布。
(4)晶体缺陷：通过分析衍射图样来研究材料中的晶体缺陷，如晶格畸变、位错等。
(5)晶体尺寸和形态：通过研究衍射峰的形状和宽度来估计晶体的尺寸和形态。
(6)物相分析：用于物质的物相分析，确定材料的物相组成和晶体结构。
(7)定性分析和定量分析：通过XRD图谱进行物质的定性分析和定量分析。
(8)药物晶型分析：用于新药研发时的化合物定性分析，确定药物的晶型和结晶情况。
XRD分析方法和步骤
(1)峰的识别：首先，需要找到图谱上的所有峰，并确定它们的2θ位置以及相对强度。
(2)相识别：根据峰的位置，使用标准的XRD数据库来匹配相位。每种晶体结构都有XRD峰位特征。
(3)定量分析：如果样品中有多种相，可以通过峰的强度来估计各相的质量分数。这需要通过软件拟合峰的形状整合峰面积，一般假设服从琼斯矩阵理论。
(4)嵌入分析：如果有非晶物质，也可以估计晶粒度的大致范围。根据施莱尔公式粗略拟合峰宽度。
(5)应力分析：峰位的细微移动反映了样品的应力状态。峰位偏移量与应力之间也有定量关系。
(6)优选取向分析：比较同一相在不同晶面反射峰的相对强度，可以判断是否存在优选取向。实际应用中可能需要更复杂的拟合，结合样品的已知信息来综合判断。
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